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薄膜厚度測厚儀的原理和標(biāo)準

時間:2020-05-10 發布:蜜桃影院儀器

  薄膜厚度測厚儀的原(yuán)理
將預先處理好的薄型試樣的(de)一麵置於下測量麵上,與下測量麵(miàn)平行且中心對齊的上(shàng)測量麵。
以一定的壓力,落到薄型(xíng)試樣的另一麵上,同測量頭一(yī)體的傳感器自動檢測出上下測量麵之間的距離(lí),即為薄型試樣的厚度。
  薄膜厚度測厚儀的標準

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、

ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中國(guó)《藥品生產質(zhì)量管理規範》(GMP)對軟件的有關要求(可選(xuǎn)配置(zhì))

 

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